有标准了！“纳米技术-石墨烯和相关二维（2D）材料的性质和测量技术矩阵”ISO标准发布

近日消息，国际标准化组织（ISO）已发布标准ISO/TR 19733：2019，“纳米技术 - 石墨烯和相关二维（2D）材料的性质和测量技术矩阵”。

ISO表示，自2004年石墨烯被发现以来，由于其非常优秀的材料特性，它已成为应用研究和器件行业中最具吸引力的材料之一。据人们预计，未来几年内，石墨烯的应用可以广泛地取代目前的很多器件开发技术，例如触摸屏、有机发光二极管（OLED）、太阳能电池、超级电容器和电磁屏蔽等。

该标准提供了一个矩阵，该矩阵将石墨烯和相关二维（2D）材料的关键特性与商业上可实现的测量技术联系起来。 该矩阵包括用于表征石墨烯和相关2D材料的化学、物理、电学、光学、热学和机械性质的测量技术。 ISO建议该矩阵可作为开发石墨烯和相关2D材料的表征和测量所需的国际标准的初始指南。

为了更深入地了解材料特性并找到高质量的大规模生产方式，在全球的大学，研究机构和实验室中正在对石墨烯进行大量的研究，并对相关的二维（2D）材料进行类似的研究。然而，为了将这些革命性材料引入全面商业化，要求重要材料特性的表征和测量技术需要标准化并得到全球认可。在该文献中，需要标准化的石墨烯和相关2D材料的特定性质的表征和测量技术以矩阵的形式组织。该矩阵可以作为开发石墨烯和相关2D材料的表征和测量所需的国际标准的初始指南。

该标准中的测量和表征手段包括：

AFM 原子力显微镜

BET Brunauer，Emmet和Teller方法

EDS 能量色散谱

EPMA 电子探针X射线微量分析

ESR 电子自旋共振

FT-IR 傅立叶变换红外光谱

ICP-MS 电感耦合等离子体质谱法

KPFM 开尔文探针力显微镜

LEEM 低能电子显微镜

SEM 扫描电子显微镜

SIMS 二次离子质谱

SKPM 扫描开尔文探针显微镜

STM 扫描隧道显微镜

TEM 透射电子显微镜

TGA 热重分析

UPS 紫外光电子显微镜

UV-VIS-NIR SPECTROSCOPY 紫外，可见，近红外光谱

WDS 波长色散光谱

XRD X射线衍射

XPS X射线光电子能谱

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